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怎樣判斷封裝IC好壞？

1. 檢查供電：直接用萬(wàn)用表測(cè)量VCC和GND的電平，是否符合要求。如果VCC偏離5V或3.3V過(guò)多，檢查7805或其他穩(wěn)壓、濾波電路的輸出。

2. 檢查晶振…… 這個(gè)我也不知道怎么檢查晶振好壞，我的方法比較土：一般是多換幾個(gè)晶振上電試試，反正石英晶振不值很多錢(qián)：）

3. 檢查RESET引腳電平邏輯，注意所用機(jī)型是高電平復(fù)位還是低電平復(fù)位的，如果MCU一直處于反復(fù)被復(fù)位狀態(tài)，呵呵，結(jié)果不言而喻。

4. 如果設(shè)計(jì)時(shí)，程序是從擴(kuò)展的外部ROM開(kāi)始運(yùn)行的，還需檢查EA腳。

5. 檢查MCU是否損壞或flash無(wú)法下載，最好換塊新的芯片試試。

6. 如果確定上述幾點(diǎn)都沒(méi)問(wèn)題，按道理說(shuō)硬件是應(yīng)該正常運(yùn)行的了（為了防止萬(wàn)一，也可以寫(xiě)一段較簡(jiǎn)短的并口亮燈程序測(cè)試下最小系統(tǒng)）……如果測(cè)試程序運(yùn)行正常。那就基本確定是控制程序的問(wèn)題了，在keil里反復(fù)跟蹤調(diào)試程序，留意調(diào)用子程序后工作寄存器組、累加器、DPTR等是否為預(yù)期值。

如何判斷封裝ic芯片的好壞

一、不在路檢測(cè)

這種方法是在ｉｃ未焊入電路時(shí)進(jìn)行的，一般情況下可用萬(wàn)用表測(cè)量各引腳對(duì)應(yīng)于接地引腳之間的正、反向電阻值，并和完好的ｉｃ進(jìn)行 較。

二、在路檢測(cè)

這是一種通過(guò)萬(wàn)用表檢測(cè)ｉｃ各引腳在路（ｉｃ在電路中）直流電阻、對(duì)地交直流電壓以及總工作電流的檢測(cè)方法。這種方法克服了代換試驗(yàn)法需要有可代換ｉｃ的局限性和拆卸ｉｃ的麻煩，是檢測(cè)ｉｃ最常用和實(shí)用的方法。

２．直流工作電壓測(cè)量

這是一種在通電情況下，用萬(wàn)用表直流電壓擋對(duì)直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進(jìn)行測(cè)量；檢測(cè)ｉｃ各引腳對(duì)地直流電壓值，并與正常值相 較，進(jìn)而壓縮故障范圍， 出損壞的元件。測(cè)量時(shí)要注意以下八 ：

（1）萬(wàn)用表要有足夠大的內(nèi)阻， 少要大于被測(cè)電路電阻的１０倍以上，以免造成較大的測(cè)量誤差。

（2）通常把各電位器旋到中間位置，如果是電視機(jī)，信號(hào)源要采用標(biāo)準(zhǔn)彩條信號(hào)發(fā)生器。

3）表筆或探頭要采取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞ｉｃ。可采取如下方法防止表筆滑動(dòng)：取一段自行車用氣門(mén)芯套在表筆尖上，并長(zhǎng)出表筆尖約０．５ｍｍ左右，這既能使表筆尖良好地與被測(cè)試點(diǎn)接觸，又能有效防止打滑，即使碰上鄰近點(diǎn)也不會(huì)短路。

（4）當(dāng)測(cè)得某一引腳電壓與正常值不符時(shí)，應(yīng)根據(jù)該引腳電壓對(duì)ｉｃ正常工作有無(wú)重要影響以及其他引腳電壓的相應(yīng)變化進(jìn)行分析， 能判斷ｉｃ的好壞。

（5）ｉｃ引腳電壓會(huì)受外圍元器件影響。當(dāng)外圍元器件發(fā)生漏電、短路、開(kāi)路或變值時(shí)，或外圍電路連接的是一個(gè)阻值可變的電位器，則電位器滑動(dòng)臂所處的位置不同，都會(huì)使引腳電壓發(fā)生變化。

（6）若ｉｃ各引腳電壓正常，則一般認(rèn)為ｉｃ正常；若ｉｃ部分引腳電壓異常，則應(yīng)從偏離正常值最大處入手，檢查外圍元件有無(wú)故障，若無(wú)故障，則ｉｃ很可能損壞。

（7）對(duì)于動(dòng)態(tài)接收裝置，如電視機(jī)，在有無(wú)信號(hào)時(shí)，ｉｃ各引腳電壓是不同的。如發(fā)現(xiàn)引腳電壓不該變化的反而變化大，該隨信號(hào)大小和可調(diào)元件不同位置而變化的反而不變化，就可確定ｉｃ損壞。

（8）對(duì)于多種工作方式的裝置，如錄像機(jī)，在不同工作方式下，ｉｃ各引腳電壓也是不同的。

３．交流工作電壓測(cè)量法

為了掌握ｉｃ交流信號(hào)的變化情況，可以用帶有ｄｂ插孔的萬(wàn)用表對(duì)ｉｃ的交流工作電壓進(jìn)行近似測(cè)量。檢測(cè)時(shí)萬(wàn)用表置于交流電壓擋，正表筆插入ｄｂ插孔；對(duì)于無(wú)ｄｂ插孔的萬(wàn)用表，需要在正表筆串接一只０．１～０．５μｆ隔直電容。該法適用于工作頻率 較低的ｉｃ，如電視機(jī)的視頻放大級(jí)、場(chǎng)掃描電路等。由于這些電路的固有頻率不同，波形不同，所以所測(cè)的數(shù)據(jù)是近似值，只能供參考。

４．總電流測(cè)量法

該法是通過(guò)檢測(cè)ｉｃ電源進(jìn)線的總電流，來(lái)判斷封裝ｉｃ好壞的一種方法。由于ｉｃ內(nèi)部絕大多數(shù)為直接耦合，ｉｃ損壞時(shí)（如某一個(gè)ｐｎ結(jié)擊穿或開(kāi)路）會(huì)引起后級(jí)飽和與截止，使總電流發(fā)生變化。所以通過(guò)測(cè)量總電流的方法可以判 ｉｃ的好壞。也可用測(cè)量電源通路中電阻的電壓降，用歐姆定律計(jì)算出總電流值。